1
/
de
2
ORIWHIZ
Dispositif de test Nand JC JC-NX pour iPhone X / XS / XS Max, JC-NX
Dispositif de test Nand JC JC-NX pour iPhone X / XS / XS Max, JC-NX
Prix habituel
$208.25 USD
Prix habituel
Prix promotionnel
$208.25 USD
Prix unitaire
/
par
Frais d'expédition calculés à l'étape de paiement.
Impossible de charger la disponibilité du service de retrait
1. Détection extrêmement rapide de la puce Nand et prêt pour le flashage/brossage IOS.
2. Il simplifie les tests grâce à la fonction sans batterie via l'alimentation du port d'éclairage et la communication de données.
3. Le siège de test Nand détachable signifie également qu'il est remplaçable, très pratique pour l'entretien et la réparation.
4. Carte mère multiple adaptée pour une bonne économie de coûts et une utilisation facile.
5. Convient pour iPhone X/XS/XS Max.
6. Taille du produit : 105x66x8mm.
Emballage comprenant :
Dispositif de test NAND x 1
Câble USB x 1
Manuel d'utilisation x 1
Afficher tous les détails
2. Il simplifie les tests grâce à la fonction sans batterie via l'alimentation du port d'éclairage et la communication de données.
3. Le siège de test Nand détachable signifie également qu'il est remplaçable, très pratique pour l'entretien et la réparation.
4. Carte mère multiple adaptée pour une bonne économie de coûts et une utilisation facile.
5. Convient pour iPhone X/XS/XS Max.
6. Taille du produit : 105x66x8mm.
Emballage comprenant :
Dispositif de test NAND x 1
Câble USB x 1
Manuel d'utilisation x 1
Spécification:
| Général |
|
| Poids du colis |
|
